輕微影響涂層測厚儀的精度因素_有關(guān)說明

輕微影響涂層測厚儀的精度因素_有關(guān)說明

1、基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對涂層測厚儀進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

2、基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

3、基體金屬厚度

每一種涂層測厚儀有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。

4、邊緣效應(yīng)

本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。

5、曲率

試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

6、試件的變形

測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

7、表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量涂層測厚儀時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點(diǎn)；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點(diǎn)。

8、附著物質(zhì)

本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須**附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

9、測頭壓力

測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

10、測頭的取向

涂層測厚儀測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。

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　　超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射試驗(yàn)方法來進(jìn)行厚度測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時，脈沖被反射回探頭通過**測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此試驗(yàn)方法測量?！　〕暡y厚儀每一種技術(shù)都有優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)，對一個特定的應(yīng)用都應(yīng)該考慮選擇哪一種方法：　　超聲波測厚儀透過涂層測量優(yōu)點(diǎn)：　　1、能測量多種金屬厚度，具代表性的，在鋼中能從1mm到50mm　　2、只需要一個回波　　3、在點(diǎn)蝕情況能更**地測量剩余地*小厚度　　透過涂層測量缺點(diǎn)：　　1、涂層*薄為0.125mm　　2、涂層表面應(yīng)當(dāng)比較光滑　　3、需要使用2種特定探頭中地一個4，表面溫度大約為50℃或51.67℃　　回波——回波測量優(yōu)點(diǎn)：　　1、可使用多種普通探頭工作　　2、常能穿透粗糙表面涂層工作　　3、用適當(dāng)?shù)奶筋^能在接近500℃或498.89℃的高溫時工作　　回波——回波測量缺點(diǎn)：　　1、需要多次底面回波，在嚴(yán)重腐蝕的金屬中可能不存在多次底面回波　　2、厚度范圍比透過涂層測量限制更多。